
渕本 壱真
情報・ネットワーク工学専攻 | 助教 |
Ⅰ類(情報系) | 助教 |
研究者情報
経歴
学歴
委員歴
- 2025年02月 - 2025年07月
18th International Conference on Educational Data Mining (EDM2025), Program Committee., the International Educational Data Mining Society - 2024年01月 - 2024年07月
17th International Conference on Educational Data Mining (EDM2024), Program Committee., the International Educational Data Mining Society - 2022年12月 - 2023年07月
24th International Conference on Artificial Intelligence in Education (AIED2023), Local Committee.
研究活動情報
受賞
論文
- Computerized Adaptive Testing to Balance Exposure Bias and Measurement Accuracy Using Zero-Suppressed Binary Decision Diagrams
Maomi Ueno; Kazuma Fuchimoto; Wakaba Kishida; Yoshimitsu Miyazawa
IEEE Access, 13巻, 1号, 掲載ページ 33883-33903, 出版日 2025年02月19日, 査読付
研究論文(学術雑誌), 英語 - 項目難易度制約付き等質適応型テスト
岸田 若葉; 渕本 壱真; 宮澤 芳光; 植野 真臣
電子情報通信学会論文誌 D, Vol.J107-D巻, 10号, 掲載ページ 506-517, 出版日 2024年10月, 査読付
研究論文(学術雑誌), 日本語 - 項目露出ペナルティを用いた 整数計画法による自動並行テスト構成
渕本 壱真; 植野 真臣
筆頭著者, 統計数理, 72巻, 1号, 掲載ページ 43-59, 出版日 2024年06月, 査読付
研究論文(学術雑誌), 日本語 - Automated Parallel Test Forms Assembly using Zero-suppressed Binary Decision Diagrams
Kazuma Fuchimoto; Shin-Ichi Minato; Maomi Ueno
筆頭著者, IEEE Access, 11巻, 1号, 掲載ページ 112804-112813, 出版日 2023年10月, 査読付
研究論文(学術雑誌), 英語 - Item Difficulty Constrained Uniform Adaptive Testing
Wakaba Kishida; Kazuma Fuchimoto; Yoshimitsu Miyazawa; Maomi Ueno
Artificial Intelligence in Education. Posters and Late Breaking Results, Workshops and Tutorials, Industry and Innovation Tracks, Practitioners, Doctoral Consortium and Blue Sky, 1831巻, 掲載ページ 568-573, 出版日 2023年06月, 査読付 - Zero-suppressed Binary Decision Diagramsを用いた自動テスト構成
渕本壱真; 湊真一; 植野真臣
人工知能学会論文誌(Web), 37巻, 5号, 出版日 2022年09月, 査読付
研究論文(学術雑誌) - 項目露出を考慮した整数計画法による等質テスト構成
植野晶; 渕本壱真; 植野真臣
電子情報通信学会論文誌 D(Web), J105-D巻, 8号, 出版日 2022年08月, 査読付
研究論文(学術雑誌) - Hybrid Maximum Clique Algorithm Using Parallel Integer Programming for Uniform Test Assembly
Kazuma Fuchimoto; Takatoshi Ishii; Maomi Ueno
IEEE Transactions on Learning Technologies, 出版日 2022年04月01日
研究論文(学術雑誌) - e-Testing from artificial intelligence approach
Maomi Ueno; Kazuma Fuchimoto; Emiko Tsutsumi
Behaviormetrika, 出版日 2021年07月, 査読付, 招待
研究論文(学術雑誌), 英語 - 等質テスト構成における整数計画法を用いた最大クリーク探索の並列化
渕本壱真; 植野真臣
電子情報通信学会論文誌 D(Web), J103-D巻, 12号, 出版日 2020年12月, 査読付
研究論文(学術雑誌)
MISC
- 出題頻度の偏りと測定精度のトレードオフを制御する ZDD を用いた二段階等質適応型テスト
渕本壱真; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2024年08月, 第49回 教育システム情報学会全国大会, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議) - 所要時間のためのガウス過程を用いたMulti-Task Deep Neural Network により制限時間を考慮する自動テスト構成
石川文弥; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2024年08月, 第49回 教育システム情報学会全国大会, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議) - 問題項目への所要時間を予測するMulti-Task Deep Gaussian Process
石川文弥; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2024年07月, 人工知能学会先進的学習科学と工学研究会資料, 101st巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 1349-4104, 202402259325729069 - 測定精度の等質性を向上させる最大重みクリーク問題と混合整数計画問題を用いた自動テスト構成
門脇瑞穂; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2024年05月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 38th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202402278707439745 - 所要時間におけるDeep-IRTを用いて制限時間を考慮した自動並行テスト構成
石川文弥; 渕本壱真; 岸田若葉; 堤瑛美子; 植野真臣
出版日 2024年05月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 38th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202402291861203166 - Multiple Zero-suppressed Binary Decision Diagramsによる自動テスト構成
渕本壱真; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2023年08月, 第48回 教育システム情報学会全国大会, 日本語, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議) - 自動テスト構成のためのロジスティック項目露出ペナルティを用いた整数計画法
渕本壱真; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2023年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 37th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202302236426837223 - 暴露数の偏り軽減のための項目難易度制約付き等質適応型テスト
岸田若葉; 渕本壱真; 宮澤芳光; 植野真臣
出版日 2023年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 37th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202302215954970825 - 重み付き最大クリーク探索を用いた自動テスト構成
門脇瑞穂; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2023年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 37th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202302282082576474 - 測定誤差を制御する2段階等質適応型テスト
宮澤芳光; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2022年11月, 人工知能学会先進的学習科学と工学研究会資料, 96th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 1349-4104, 202202268520389739 - 自動テスト構成における項目露出の偏りを軽減する整数計画法を用いた最大クリーク探索
渕本壱真; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2022年08月, 教育システム情報学会全国大会講演論文集(CD-ROM), 47th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 202302230481558801 - ZDDを用いた等質テスト構成
渕本壱真; 湊真一; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2022年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 36th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202202222854525669 - 項目露出を考慮した整数計画法による等質テスト構成
植野晶; 渕本壱真; 植野真臣
出版日 2021年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 35th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202102253239805141 - 等質テスト構成のための最大クリーク並列探索アルゴリズム
渕本壱真; 植野真臣
筆頭著者, 出版日 2020年06月, 人工知能学会全国大会論文集(Web), 34th巻, 研究発表ペーパー・要旨(全国大会,その他学術会議), 2758-7347, 202002265768519592