修士（工学）, 電気通信大学

Master in Engineering, The University of Electro-Communications

博士（工学）, 電気通信大学

Ph.D. in Engineering, The University of Electro-Communications

エネルギー貯蔵・制御、品質管理、信頼性工学、機器の寿命予測、故障物理

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学）, 電子デバイス、電子機器

社会基盤（土木・建築・防災）, 安全工学

社会基盤（土木・建築・防災）, 社会システム工学

2021年05月 - 現在
電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, センター長

2019年04月 - 現在
電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 教授

2016年04月01日 - 2019年03月31日
電気通信大学, i-パワードエネルギー・システム研究センター, 准教授

2013年04月01日 - 2016年03月31日
職業能力開発総合大学校, 生産管理系, 准教授

2010年04月01日 - 2013年03月31日
ルネサスエレクトロニクス株式会社, デバイス・解析技術統括部デバイスソリューション開発部信頼性技術課, 課長

2002年11月01日 - 2010年03月31日
NECエレクトロニクス株式会社

1994年04月01日 - 2002年10月30日
日本電気株式会社

1992年04月01日 - 1994年03月31日
電気通信大学, 電気通信学研究科, 電子情報学専攻, 日本国

1988年04月01日 - 1992年03月23日
電気通信大学, 電気通信学部, 電子情報学科

1985年04月01日 - 1988年03月23日
愛媛県立新居浜西高等学校, 普通科

2019年05月 - 現在
理事, 日本信頼性学会

2023年01月 - 2024年12月
Chair, IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter, 学協会

2016年06月 - 2024年12月
幹事補佐, 電子情報通信学会信頼性研究会, 学協会

2019年04月01日 - 2020年03月31日
2019 GOOD FACTORY賞審査委員, 2019 GOOD FACTORY賞審査委員会, その他

2019年09月01日 - 2020年02月28日
JAXA/HIREC 民生コンポーネント活用検討会委員, JAXA/HIREC 民生コンポーネント活用検討会, その他

2018年09月01日 - 2019年02月28日
JAXA/JAMSS 民生コンポーネント活用検討会委員, JAXA/JAMSS 民生コンポーネント活用検討会, その他

2017年09月01日 - 2018年02月28日
JAXA/JAMSS 民生コンポーネント活用検討会委員, JAXA/JAMSS 民生コンポーネント活用検討会, その他

受賞日 2024年10月
ADMETA Committee
Effects of defect clustering on the shape of TDDB lifetime distribution and screening effectiveness
Best Poster Award, Koichi Endo;Shinji Yokogawa

受賞日 2024年05月
横断型基幹科学技術研究団体連合
感染症予防難易度の高い社会福祉施設の空気質管理
木村賞, 横川慎二;石垣陽;喜多村紘子;齋藤彰

受賞日 2022年05月
日本信頼性学会
機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の可視化に基づく創発的不具合の構造解析
高木賞, 横川慎二
学会誌・学術雑誌による顕彰

受賞日 2018年06月
日本信頼性学会
テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の分析
第30回秋期シンポジウム優秀賞, 横川慎二, 國井喬介
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2017年05月
日本信頼性学会
リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクル数と待機時間の影響
2016春期シンポジウム優秀賞, 横川慎二, 長野祐児
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2015年
日本信頼性学会
原子輸送モデルと応用分布による突出し配線におけるストレス誘起ボイドのレイアウト依存性解析
2014春期シンポジウム優秀賞, 横川慎二
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2014年
IEEE Reliability Society Japan Chapter
Lifetime Distribution Analysis of Stress-induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/low-κ Interconnects
IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2013, 横川慎二 土屋秀昭
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2014年
新版 信頼性ハンドブック（日科技連出版社）
日経品質管理文献賞, 日本信頼性学会
出版社・新聞社・財団等の賞

受賞日 2012年
Advanced Metallization Conference (ADMETA) Technical Award 2011, Shinji Yokogawa;Hideaki Tsuchiya;Tatsuo Shimizu
国際学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2011年
日本信頼性学会
HfSiOxによる仕事関数制御MOSトランジスタにおけるランダム・テレグラフ・ノイズ
2009秋期シンポジウム優秀賞, 清水立雄 加藤一郎 横川慎二
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2011年
Role of Impurity Segregation to Cu/Cap Interface and Grain Boundary on Resistivity and Electromigration in Cu/low-k interconnects
Advanced Metallization Conference (ADMETA) Award 2010, Shinji Yokogawa and Yumi Kakuhara
国際学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2008年
IEEE Reliability Society Japan Chapter
IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2007
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2007年
財団法人日本電子部品信頼性センター
インバーターチェーン回路を用いたSoft Breakdown 起因のIDD劣化評価
第16回電子デバイスの信頼性シンポジウム技術賞, 加藤一郎 横川慎二
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2006年
財団法人日本電子部品信頼性センター
低い累積故障確率におけるエレクトロマイグレーション寿命とボイド形成
第15回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞, 土屋秀昭 横川慎二
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 2004年
日本信頼性学会
サドンデスTEGとOBIRCHを用いたダマシンCu配線のエレクトロマイグレーション評価
高木賞, 横川慎二
学会誌・学術雑誌による顕彰

受賞日 2001年
財団法人日本電子部品信頼性センター
多層ダマシンCu配線のエレクトロマイグレーションに関する一考察
第10回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞, 横川慎二;岡田紀雄;角原由美;瀧澤秀行
国内学会・会議・シンポジウム等の賞

受賞日 1996年
日本設備管理学会
劣化量データを用いた設備の最適保全方策とパラメータ推定
日本設備管理学会論文賞, 横川慎二, 鈴木和幸
学会誌・学術雑誌による顕彰

Technical Optimization and Experimental Validation of Wall-Mounted Cylindrical Solar Cell in Urban Environments
Fumiki Tamura; Kento Honma; Shinji Yokogawa; Syuzi Hayase; Masaki Nakamura; Tomoyuki Hirami; Daisuke Hirotani; Yuya Sono; Toshihiro Takenoya; Daishiro Nomura; Takatoshi Nomura; Masahiro Hayashi
責任著者, IEEE Access, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 13巻, 掲載ページ 103809-103822, 出版日 2025年06月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

社会福祉施設における感染症予防のための空気質管理
横川 慎二; 石垣 陽; 喜多村 紘子; 齋藤 彰
筆頭著者, 横幹, 18巻, 2号, 掲載ページ 85-96, 出版日 2024年10月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Assessing personal PM2.5 exposure using a novel neck-mounted monitoring device in rural Rwanda
Yo Ishigaki; Shinji Yokogawa; Kan Shimazaki; Tin-Tin Win-Shwe; Elisephane Irankunda
Environmental Monitoring and Assessment, Springer Science and Business Media LLC, 196巻, 10号, 出版日 2024年09月16日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Device Identification Based On Power Waveform Using USB-PD Negotiation
Takumi Wada; Yuusuke Kawakita; Haruhisa Ichikawa; Shinji Yokogawa; Yoshito Tobe
2024 International Conference on Intelligent Environments (IE), IEEE, 掲載ページ 78-84, 出版日 2024年06月17日
研究論文（国際会議プロシーディングス）

Monitoring the ventilation of living spaces to assess the risk of airborne transmission of infection using a novel Pocket CO2 Logger to track carbon dioxide concentrations in Tokyo
Yo Ishigaki; Shinji Yokogawa
PLOS ONE, Public Library of Science (PLoS), 19巻, 5号, 掲載ページ e0303790-e0303790, 出版日 2024年05月23日, 査読付, We employed carbon dioxide (CO₂) concentration monitoring using mobile devices to identify location-specific risks for airborne infection transmission. We lent a newly developed, portable Pocket CO₂ Logger to 10 participants, to be carried at all times, for an average of 8 days. The participants recorded their location at any given time as cinema, gym, hall, home, hospital, other indoors, other outgoings, pub, restaurant, university, store, transportation, or workplace. Generalized linear mixed model was used for statistical analysis, with the objective variable set to the logarithm of CO₂ concentration. Analysis was performed by assigning participant identification as the random effect and location as the fixed effect. The data were collected per participant (seven males, four females), resulting in a total of 12,253 records. Statistical analysis identified three relatively poorly ventilated locations (median values > 1,000 ppm) that contributed significantly (p < 0.0001) to CO₂ concentrations: homes (1,316 ppm), halls (1,173 ppm), and gyms (1005ppm). In contrast, two locations were identified to contribute significantly (p < 0.0001) to CO₂ concentrations but had relatively low average values (<1,000 ppm): workplaces (705 ppm) and stores (620 ppm). The Pocket CO₂ Logger can be used to visualize airborne infectious transmission risk by location to help guide recommendation regarding infectious disease policies, such as restrictions on human flow and ventilation measures and guidelines. In the future, large-scale surveys are expected to utilize the global positioning system, Wi-Fi, or Bluetooth of an individual’s smartphone to improve ease and accuracy.
研究論文（学術雑誌）

スマートシティ実現に向けた都市設計における局所大気環境改善のための交通量と大気質の同地点測定
湯浅剛; 田中健次; 長濱章仁; 横川慎二; 山田哲男
日本設備管理学会誌, 36巻, 1号, 掲載ページ 9-15, 出版日 2024年04月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Evaluation and risk communication of the effects of alcohol exposure on disposable procedure masks and portable air purifiers in hospital environments
Yo Ishigaki; Shinji Yokogawa; Tatsuo Kato
Toxicology and Industrial Health, SAGE Publications, 出版日 2024年01月15日, 査読付, Electret technology was widely used to prevent the airborne transmission of bioaerosols during the COVID-19 pandemic and improve the filtration efficiency of masks and high-efficiency particulate air (HEPA) filters. As alcohol disinfectants are widely used in medical and welfare institutions, concerns about alcohol exposure inactivating electret exist. However, comprehensive alcohol exposure tests have not been conducted on masks and HEPA filters distributed in Japan. Twenty-five types of masks and five types of HEPA filters were subjected to a discharging process according to ISO 16890 to quantitatively elucidate the resistance to alcohol exposure. Measurements of changes in filtration efficiency and pressure drop before and after discharge show that 17 masks (68%) and four HEPA filters (80%) exhibited a significant decrease in filtration efficiency, confirming their vulnerability to alcohol. In addition, a survey ( n = 500 Japanese adults, including 30 healthcare professionals) revealed that ∼90% of the general public were unaware that alcohol exposure could degrade masks and air purifiers. Furthermore, 36% of the surveyed healthcare professionals had sprayed alcohol directly onto their masks. The effectiveness of user warnings through product labels and instructions was investigated from the perspective of ensuring the safety of patients and healthcare professionals. Results revealed that the best approach was to describe the extent and duration of the adverse effects caused by disregarding precautions. Increase in awareness of healthcare professionals and general public by authorities and manufacturers through guidelines and warning labels would reduce the risk of inhaling bioaerosols caused by unintentional electret inactivation.
研究論文（学術雑誌）

Affinity-Based Power Flow Optimization in Reconfigurable Picogrid
Ryota Kokubu; Kaito Oeda; Yuusuke Kawakita; Shinji Yokogawa; Yoshito Tobe; Haruhisa Ichikawa
2024 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII), IEEE, 出版日 2024年01月08日
研究論文（国際会議プロシーディングス）

Parallelization of DC Feeding Network Setting Time Reduction of Control Frequency
Kazato Otsu; Haruhisa Ichikawa; Yoshito Tobe; Shinji Yokogawa; Yuusuke Kawakita
2023 Fourteenth International Conference on Mobile Computing and Ubiquitous Network (ICMU), IEEE, 出版日 2023年11月29日
研究論文（国際会議プロシーディングス）

Ventilatory effects of excessive plastic sheeting on the formation of SARS-Cov-2 in a closed indoor environment
Yo Ishigaki; Yuto Kawauchi; Shinji Yokogawa; Akira Saito; Hiroko Kitamura; Takashi Moritake
責任著者, Environmental and Occupational Health Practice, Japan Society for Occupational Health, 5巻, 1号, 掲載ページ n/a-n/a, 出版日 2023年07月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Statistical modeling of V _th distribution in ovonic threshold switches based on physical switching models
Shinji Yokogawa
筆頭著者, Japanese Journal of Applied Physics, IOP Publishing, 62巻, SH号, 掲載ページ SH1001-SH1001, 出版日 2023年02月15日, 査読付, Abstract

This paper discusses the statistical modeling of the V_th distribution of an ovonic threshold switch, an integral component of high-speed, high-capacity storage-class memory. A distribution function that explains the V_th variation and a method for estimating and judging it is proposed based on three representative switching mechanisms—thermal runaway model, physically based electrical model, and two-state defect model. We examined the relationship between the segment V_th distribution and V_th minimum distribution is examined by considering chip-level scaling in Monte Carlo simulations and analytical analysis of the distribution function. The latter distribution approaches the Weibull distribution; however, its convergence speed differs.
研究論文（学術雑誌）

Estimation of air change rate by CO2 sensor network in workplace with COVID-19 outbreak
Shinji Yokogawa; Yo Ishigaki; Hiroko Kitamura; Akira Saito; Yuto Kawauchi; Taisei Hiraide
筆頭著者, Environmental and Occupational Health Practice, Japan Society for Occupational Health, 出版日 2023年, 査読付
研究論文（学術雑誌）

Pilot Evaluation of Possible Airborne Transmission in a Geriatric Care Facility Using Carbon Dioxide Tracer Gas: Case Study
Yo Ishigaki; Shinji Yokogawa; Yuki Minamoto; Akira Saito; Hiroko Kitamura; Yuto Kawauchi
JMIR Formative Research, JMIR Publications Inc., 6巻, 12号, 掲載ページ e37587-e37587, 出版日 2022年12月30日, 査読付, Background

Although several COVID-19 outbreaks have occurred in older adult care facilities throughout Japan, no field studies focusing on airborne infections within these settings have been reported. Countermeasures against airborne infection not only consider the air change rate (ACR) in a room but also the airflow in and between rooms. However, a specific method has not yet been established by Japanese public health centers or infectious disease–related organizations.

Objective

In April 2021, 59 COVID-19 cases were reported in an older adult care facility in Miyagi, Japan, and airborne transmission was suspected. The objective of this study was to simultaneously reproduce the ACR and aerosol advection in this facility using the carbon dioxide (CO2) tracer gas method to elucidate the specific location and cause of the outbreak. These findings will guide our recommendations to the facility to prevent recurrence.

Methods

In August 2021, CO2 sensors were placed in 5 rooms where airborne infection was suspected, and the CO2 concentration was intentionally increased using dry ice, which was subsequently removed. The ACR was then estimated by applying the Seidel equation to the time-series changes in the CO2 concentration due to ventilation. By installing multiple sensors outside the room, advection outside the room was monitored simultaneously. Aerosol advection was verified using computer simulations. Although the windows were closed at the time of the outbreak, we conducted experiments under open-window conditions to quantify the effects of window opening.

Results

The ACR values at the time of the outbreak were estimated to be 2.0 to 6.8 h−1 in the rooms of the facility. A low-cost intervention of opening windows improved the ventilation frequency by a factor of 2.2 to 5.7. Ventilation depended significantly on the window-opening conditions (P values ranging from .001 to .03 for all rooms). Aerosol advection was detected from the private room to the day room in agreement with the simulation results. Considering that the individual who initiated the infection was in the private room on the day of infection, and several residents, who later became secondarily infected, were gathered in the day room, it was postulated that the infectious aerosol was transmitted by this air current.

Conclusions

The present results suggest that secondary infections can occur owing to aerosol advection driven by large-scale flow, even when the building design adheres to the ventilation guidelines established in Japan. Moreover, the CO2 tracer gas method facilitates the visualization of areas at a high risk of airborne infection and demonstrates the effectiveness of window opening, which contributes to improved facility operations and recurrence prevention.
研究論文（学術雑誌）

CO2センサを活用した循環器健診車内の換気可視化の検討
齋藤彰; 石垣陽; 横川慎二; 川内雄登; 田中晴美; 浅野美穂; 小川美紀; 石川正悟; 高橋里美; 齋藤泰紀
日本人間ドック学会誌, 37巻, 4号, 掲載ページ 699-707, 出版日 2022年12月, 査読付

Ventilation improvement and evaluation of its effectiveness in a Japanese manufacturing factory
Hiroko Kitamura; Yo Ishigaki; Hideaki Ohashi; ShinjiYokogawa
scientific reports, nature.com, 12巻, 1号, 掲載ページ 17642-17642, 出版日 2022年10月21日, 査読付, 国際誌, A coronavirus disease 2019 (COVID-19) cluster emerged in a manufacturing factory in early August 2021. In November 2021, we conducted a ventilation survey using the tracer gas method. Firstly, we reproduce the situation at the time of cluster emergence and examined whether the ventilation in the office was in a condition that increased the risk of aerosol transmission. Secondly, we verified the effectiveness of the factory's own countermeasure implemented immediately after the August cluster outbreak. Furthermore, we verified the effectiveness of several additional improvement measures on the factory's own countermeasures already installed in August. Under the conditions of the cluster emergence, the air changes per hour (ACH) value was 0.73 ACH on average. The ACH value was less than 2 ACH recommended by the Ministry of Health, Labour, and Welfare, suggesting an increased risk of aerosol transmission. The factory's own countermeasures taken immediately in August were found to be effective, as the ACH value increased to 3.41 ACH on average. Moreover, it was confirmed that additional improvement measures on the factory's own countermeasures increased the ACH value to 8.33 ACH on average. In order to prevent the re-emergence of COVID-19 clusters due to aerosol infection in the office, it was found that while continuing the factory's own countermeasure, additional improvement measures should also be added depending on the number of workers in the room. In a company, it is important that workers themselves continue to take infection control measures autonomously, and confirming the effectiveness of the measures will help maintain workers' motivation. We believe it is helpful that external researchers in multiple fields and internal personnel in charge of the health and safety department and occupational health work together to confirm the effectiveness of conducted measures, such as in this case.
研究論文（学術雑誌）, 英語

Indirect diagnosis methods of energy storage capability for mobile devices with USB power delivery
Minoru Asano; Shinji Yokogawa; Haruhisa Ichikawa
IEICE Communications Express, 11巻, 7号, 掲載ページ 455-460, 出版日 2022年05月10日, 査読付
英語

A method for generating graphs to derive maximum flow and its evaluation
Takumi Wada; Haruhisa Ichikawa; Shinji Yokogawa; Yoshito Tobe; Yuusuke Kawakita
IEICE Communications Express, 11巻, 8号, 掲載ページ 468-473, 出版日 2022年02月04日, 査読付
英語

Analysis of the Trends Between Indoor Carbon Dioxide Concentration and Plug-Level Electricity Usage Through Topological Data Analysis
Shun Endo; Shinji Yokogawa
IEEE Sensors Journal, 22巻, 2号, 掲載ページ 1424-1434, 出版日 2022年01月15日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化量分析
浅野 実; 横川 慎二; 石垣 陽; 冨永 潤一; 粟津 浜一
モバイル学会誌, 11巻, 1・2号, 掲載ページ 1-8, 出版日 2021年12月31日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

位相的データ解析を用いた室内環境に関する時系列多次元データの分析
遠藤駿; 横川慎二
電子情報通信学会・システムソサイエティ和文論文誌, 電子情報通信学会, 104-D巻, 4号, 掲載ページ 318-327, 出版日 2021年04月01日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Toward efficient power delivery using USB power delivery hub: Poster abstract
K. Takaie; K. Tamura; Y. Kawakita; S. Yokogawa; Y. Tobe; H. Ichikawa
SenSys 2020 - Proceedings of the 2020 18th ACM Conference on Embedded Networked Sensor Systems, Association for Computing Machinery, Inc, 掲載ページ 733-734, 出版日 2020年11月16日
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

エゾシカ肉のおいしさのリアルタイム計測
武山真弓; 佐藤勝; 安井崇; 横川慎二
電子情報通信学会論文誌 C, J103-C巻, 9号, 掲載ページ 387-394, 出版日 2020年08月19日, 査読付, 招待
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Humidity reliability of commercial flash memories for long-term storage
Tomoki Murota; Toshiki Mimura; Ploybussara Gomasang; Shinji Yokogawa; Kazuyoshi Ueno
Japanese Journal of Applied Physics, 59巻, SL号, 掲載ページ SLLC01-1-SLLC01-4, 出版日 2020年04月23日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Applications of lifetime distribution functions with two shape parameters for reliability analysis in advanced interconnect technologies: a brief review
Shinji Yokogawa
Japanese Journal of Applied Physics, 59巻, SL号, 掲載ページ SL0802-1-SL0802-13, 出版日 2020年04月01日, 査読付, 招待
研究論文（学術雑誌）, 英語

Seven View Points and Reliability Engineering Scheme for Preventing Reliability Problems
Kazuyuki Suzuki; Shinji Yokogawa
International Journal of Reliability, Quality and Safety Engineering, World Scientific, 26巻, 6号, 掲載ページ 2050006-1-2050006-17, 出版日 2019年09月13日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Liner- and barrier-free NiAl metallization: A perspective from TDDB reliability and interface status
Linghan Chen; Daisuke Ando; Yuji Sutou; Shinji Yokogawa; Junichi Koike
Applied Surface Science, Elsevier, 497巻, 15号, 掲載ページ 143810-1-143810-5, 出版日 2019年08月27日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Bayesian inference of a lifetime distribution parameter on the time-dependent dielectric breakdown with clustering defects
Kyosuke Kunii; Shun Endo; Shinji Yokogawa
Japanese Journal of Applied Physics, 58巻, SH号, 掲載ページ SHHG02-1-SHHG02-8, 出版日 2019年07月05日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化
武田健吾; 澤田 賢治; 横川 慎二; 新誠一
電気学会論文誌C, 139巻, 7号, 掲載ページ 786-795, 出版日 2019年07月01日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の可視化に基づく創発的不具合の構造解析
横川慎二
日本信頼性学会誌, 日本信頼性学会, 41巻, 掲載ページ 135-147, 出版日 2019年03月01日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Lifetime prediction model of Cu-based metallization against moisture under temperature and humidity accelerations
Ploybussara Gomasang; Satoru Ogiue; Shinji Yokogawa; Kazuyoshi Ueno
Japanese Journal of Applied Physics, 58巻, SB号, 掲載ページ SBBC01-1-SBBC01-6, 出版日 2019年02月22日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Overlapped grouping optimization for wind-photovoltaic-battery hybrid system by graph enumeration
Kengo Takeda; Kenji Sawada; Shinji Yokogawa; Seiichi Shin
IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems, Institute of Electrical Engineers of Japan, 139巻, 7号, 掲載ページ 786-795, 出版日 2019年
研究論文（学術雑誌）, 日本語

風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複分散運用の検討
武田健吾; 澤田 賢治; 横川 慎二; 新誠一
電気学会論文誌C, 138巻, 12号, 掲載ページ 1554-1565, 出版日 2018年12月01日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

A survey of critical failure events in on-chip interconnect by using fault tree analysis
S. Yokogawa; K. Kunii
Japanese Journal of Applied Physics, 57巻, 7S2号, 出版日 2018年05月21日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

A statistical evaluation method for lifetime distribution in field accelerated time-dependent dielectric breakdwon by using two-step probability plot and multi-link test scheme
K. Tate; S. Yokogawa
Japanese Journal of Applied Physics, 57巻, 7S2号, 出版日 2018年05月21日, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

On the overlapping decentralized operation for wind-photovoltaic-battery hybrid system
Kengo Takeda; Kenji Sawada; Shinji Yokogawa; Seiichi Shin
IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems, Institute of Electrical Engineers of Japan, 138巻, 12号, 掲載ページ 1554-1565, 出版日 2018年
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Two-step probability plot for parameter estimation of lifetime distribution affected by defect clustering in time-dependent dielectric breakdown
Shinji Yokogawa
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 56巻, 7号, 出版日 2017年07月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

トラブル予測表を用いた故障モード予測方法と信頼性・安全性の作りこみ評価指標の提案
山﨑雄大; 横川慎二; 鈴木和幸
日本信頼性学会誌, 日本信頼性学会, 38巻, 4号, 掲載ページ 271-283, 出版日 2016年07月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Simulation study for lifetime distribution of middle-of-line time-dependent dielectric breakdown affected by global and local spacing variations
Shinji Yokogawa
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 55巻, 6号, 掲載ページ 06JF02-1-06JF02-6, 出版日 2016年06月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Statistical characteristics of lifetime distribution based on defect clustering for time-dependent dielectric breakdown in middle-and back-end-of-line
Shinji Yokogawa
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 54巻, 5号, 出版日 2015年05月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Lifetime prediction model of stress-induced voiding in Cu/low-kappa interconnects
Shinji Yokogawa
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 53巻, 5号, 掲載ページ 216-221, 出版日 2014年05月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Highly reliable molecular-pore-stacking (MPS)/Cu interconnects featuring best combination of post-etching treatment and resputtering processes
Daisuke Oshida; Ippei Kume; Hirokazu Katsuyama; Makoto Ueki; Manabu Iguchi; Shinji Yokogawa; Naoya Inoue; Noriaki Oda; Michio Sakurai
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 118巻, 掲載ページ 72-78, 出版日 2014年04月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Moisture absorption impact on Cu alloy/low-k reliability during process queue time
H. Tsuchiya; S. Yokogawa; H. Kunishima; T. Kuwajima; T. Usami; Y. Miura; K. Ohto; K. Fujii; M. Sakurai
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 106巻, 掲載ページ 205-209, 出版日 2013年06月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Highly reliable enhanced nitride interface process of barrier low-k using ultra-thin SiN with moisture blocking capability
Tatsuya Usami; Yukio Miura; Tomoyuki Nakamura; Hideaki Tsuchiya; Chikako Kobayashi; Koichi Ohto; Shoichi Hiroshima; Mikio Tanaka; Hiroyuki Kunishima; Issei Ishizuka; Teruhiro Kuwajima; Michio Sakurai; Shinji Yokogawa; Kunihiro Fujii
Microelectronic Engineering, 112巻, 掲載ページ 97-102, 出版日 2013年, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Thermal Transient Response and Its Modeling for Joule Heating in Cu/Low-kappa Interconnects Under Pulsed Current
Shinji Yokogawa; Hideaki Tsuchiya; Tatsuo Shimizu
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 51巻, 5号, 掲載ページ 350-357, 出版日 2012年05月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Role of Impurity Segregation into Cu/Cap Interface and Grain Boundary in Resistivity and Electromigration of Cu/Low-k Interconnects
Shinji Yokogawa; Yumi Kakuhara
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 50巻, 5号, 出版日 2011年05月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Highly reliable molecular-pore-stacking (MPS)/Cu interconnects using novel post-etching treatment (PET) for 28 nm-node and beyond
D. Oshida; I. Kume; H. Kunishima; H. Tsuchiya; H. Katsuyama; M. Ueki; M. Iguchi; S. Yokogawa; N. Inoue; N. Oda; M. Sakurai
2011 IEEE International Interconnect Technology Conference and 2011 Materials for Advanced Metallization, IITC/MAM 2011, 出版日 2011年
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

Failure analysis of fine Cu patterning by shave-off profiling
M. Nojima; M. Fujii; Y. Kakuhara; H. Tsuchiya; A. Kameyama; S. Yokogawa; M. Owari; Y. Nihei
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 43巻, 1-2号, 掲載ページ 621-624, 出版日 2011年01月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Statistical Analysis of Lifetime Distribution of Time-Dependent Dielectric Breakdown in Cu/Low-k Interconnects by Incorporation of Overlay Error Model
Shinji Yokogawa; Hideaki Tsuchiya
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 49巻, 5号, 出版日 2010年05月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Role of impurity segregation to Cu/Cap interface and grain boundary on resistivity and electromigration in Cu/low-k interconnects
Shinji Yokogawa; Y. Kakuhara
筆頭著者, Advanced Metallization Conference (AMC), 掲載ページ 101-102, 出版日 2010年, 招待
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

Comparison of Lifetime Improvements in Electromigration between Ti Barrier Metal and Chemical Vapor Deposition Co Capping
Yumi Kakuhara; Shinji Yokogawa; Kazuyoshi Ueno
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 49巻, 4号, 出版日 2010年, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Suppression of Electromigration Early Failure of Cu/Porous Low-k Interconnects Using Dummy Metal
Yumi Kakuhara; Shinji Yokogawa; Masayuki Hiroi; Toshiyuki Takewaki; Kazuyoshi Ueno
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 48巻, 9号, 出版日 2009年09月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Photo misalignment impacts on the low-k TDDB
H. Tsuchiya; Y. Kakuhara; D. Oshida; M. Iguchi; T. Takewaki; S. Yokogawa
Advanced Metallization Conference (AMC), 掲載ページ 719-725, 出版日 2009年
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

Analysis of Al doping effects on resistivity and electromigration of copper interconnects
Shinji Yokogawa; Hideaki Tsuchiya; Yumi Kakuhara; Kuniko Kikuta
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, 8巻, 1号, 掲載ページ 216-221, 出版日 2008年03月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Quantitative analysis of correlation between insulator surface copper contamination and TDDB lifetime based on actual measurement
D. Oshida; T. Takewaki; M. Iguchi; T. Taiji; T. Morita; Y. Tsuchiya; H. Tsuchiya; S. Yokogawa; H. Kunishima; H. Aizawa; N. Okada
2008 IEEE International Interconnect Technology Conference, IITC, 掲載ページ 222-224, 出版日 2008年
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

Tradeoff characteristics between resistivity and reliability for scaled-down Cu-based interconnects
Shinji Yokogawa; Kuniko Kikuta; Hideaki Tsuchiya; Toshiyuki Takewaki; Mieko Suzuki; Hironori Toyoshima; Yumi Kakuhara; Naoyoshi Kawahara; Tatsuya Usami; Koichi Ohto; Kunihiro Fujii; Yasuaki Tsuchiya; Koji Arita; Koichi Motoyama; Makoto Tohara; Toshiji Taiji; Tetsuya Kurokawa; Makoto Sekine
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 55巻, 1号, 掲載ページ 350-357, 出版日 2008年01月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

A Robust Embedded Ladder-oxide/Cu Multilevel Interconnect Technology for 0.13μm Complementary Metal Oxide Semiconductor Generation
N. Oda; S. Ito; T. Takewaki; K. Shiba; H. Kunishima; N. Hironaga; I. Honma; H. Namba; S. Yokogawa; A. Kameyama; T. Goto; T. Usami; K. Ohto; A. Kubo; M. Suzuki; Y. Yamamoto; S. Watanabe; K. Yamada; M. Ikeda; K. Ueno; T.Horiuchi
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 46巻, 3A号, 掲載ページ 954-961, 出版日 2007年03月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Effects of Al doping on the electromigration performance of damascene Cu interconnects
Shinji Yokogawa; Hideaki Tsuchiya
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 101巻, 1号, 出版日 2007年01月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Electromigration lifetimes and void growth at low cumulative failure probability
Hideaki Tsuchiya; Shinji Yokogawa
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 46巻, 9-11号, 掲載ページ 1415-1420, 出版日 2006年09月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

Scaling impacts on electromigration in narrow single-damascene Cu interconnects
S Yokogawa; H Tsuchiya
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS, 44巻, 4A号, 掲載ページ 1717-1721, 出版日 2005年04月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

シングルダマシンCu配線におけるパルス電流下のエレクトロマイグレーション挙動
横川慎二
電子情報通信学会誌, 88-C巻, 4号, 掲載ページ 253-260, 出版日 2005年, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Electromigration-induced void growth kinetics in SiNx-passivated single-damascene Cu lines
S Yokogawa
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 43巻, 9A号, 掲載ページ 5990-5996, 出版日 2004年09月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

サドンデスTEGとOBIRCHを用いたダマシンCu配線のエレクトロマイグレーション評価
横川慎二
日本信頼性学会誌, 日本信頼性学会, 25巻, 8号, 掲載ページ 811-820, 出版日 2003年, 査読付, ロジックLSIのトランジスタ間を接続するCu配線のエレクトロマイグレーション試験では,寿命分布がBimodal(双山)形状となることが最近報告されている.このBimodal分布の分布形状の把握には,大量のサンプルと長時間の試験が必要となる.また,故障解析も容易ではない.今回,1個のサンプル中に多数の試験対象セグメントを含むTEG(Test Element Group)を開発した.これを用いたサドンデス試験法により,少数サンプルによる試験でも,多数サンプル評価に匹敵する結果を得ることが出来た.同時に,試験時間の短縮を可能にした.加えて, OBIRCH (Optical Beam Induced Resistance CHange)による解析を考慮した設計により,故障解析の容易化を実現した.実験の結果,初期分布は上下配線層を接続するvia中のボイドモードであり,真性分布はvia下のボイドモードであることがわかった.
研究論文（学術雑誌）, 日本語

Electromigration performance of multi-level damascene copper interconnects
S Yokogawa; N Okada; Y Kakuhara; H Takizawa
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 41巻, 9-10号, 掲載ページ 1409-1416, 出版日 2001年09月, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 英語

劣化量データを用いた設備の最適保全方策とパラメータ推定
横川慎二; 鈴木和幸
日本設備管理学会誌, 5巻, 3号, 掲載ページ 3-12, 出版日 1993年, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

劣化量データを用いた寿命特性推定法に関する一考察 －拡散の故障メカニズムに基づく場合－
鈴木和幸; 真木浩司; 横川慎二
日本信頼性学会誌, 15巻, 2号, 掲載ページ 6-13, 出版日 1993年, 査読付
研究論文（学術雑誌）, 日本語

An Analysis of Degradation Data of a Carbon Film and the Properties of the Estimators
Suzuki, Kazuyuki; Koji, Maki; Shinji, Yokogawa
Stat. Sci. and Data Anal., 掲載ページ 501-511, 出版日 1993年, 査読付
研究論文（国際会議プロシーディングス）, 英語

Evaluating wall installation methods for cylindrical solar cells in urban areas by luminous flux simulation
Fumiki Tamura; Shinji Yokogawa; Shuzi Hayase; Masaki Nakamura; Tomoyuki Hirami; Daisuke Hirotani; Yuya Sono; Toshihiro Takenoya; Daishiro Nomura; Takatoshi Nomura; Masahiro Hayashi; Kento Honma
責任著者, IEEE, 出版日 2024年11月10日, 2024 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies - Asia (ISGT Asia), 掲載ページ 1-6, 英語, 査読付

Distributed Power-Delivery Decision for a USB-PD-based Network,
Y. Kawakita; K. Tamura; Y. Tobe; S. Yokogawa; H. Ichikawa
出版日 2022年06月15日, 18th International Conference on Intelligent Enbironments, 掲載ページ 20-23, 英語, 査読付

Controlling Power Supply Paths in VG Hub Networks Using a Hybrid Type Control Algorithm
Kaito Oeda; Yuusuke Kawakita; Akihito Taya; Yoshito Tobe; Shinji Yokogawa; Haruhisa Ichikawa
Although we have been developing a Virtual Grid (VG) system, where USB-PD-connected devices can alternatively provide and receive electrical power, we have not investigated the desirable power paths in a multiple-VG-Hub network. Our previous study shows that a power loss occurred inside the VG Hub. To minimize the total power loss, the number of used links needs to be minimized; the total power flow in the VG Hub network is minimized. In this paper, we have designed and implemented a cloud-based control system to execute the optimization with preceding local optimization. The experiment result has shown that the proposed hybrid type control algorithm can find the solution in 40% of the computational time on average compared with the algorithm that performs global optimization every time in the network where the solution can be found locally., IOS Press, 出版日 2022年06月14日, Ambient Intelligence and Smart Environments, 掲載ページ 205-212, 英語, 査読付, 1875-4163, 1875-4171, conf/intenv/OedaKTTYI22

Time Series Clustering of CO2 Concentration Sensor Data for Risk Classification
Y. Kawauchi; Y. Ishigaki; S. Yokogawa
出版日 2022年06月01日, Indoor air 2022, 掲載ページ 1-4, 英語, 査読付

換気の可視化による新型コロナ感染予防
石垣陽; 横川慎二
出版日 2022年05月01日, ビルと環境, 177巻, 掲載ページ 19-29, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）

CO2センサーを用いた空気品質管理の要点
横川慎二; 石垣陽
出版日 2022年05月01日, ビルと環境, 177巻, 掲載ページ 4-15, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）

Compact model for estimating area-level photovoltaic power generation on facade surface using 3D city model and solar radiation simulation
R. Nakazato; S. Yokogawa; H. Ichikawa; T. Ushirokawa; T. Takeda
出版日 2021年12月05日, 2021 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies Conference – Asia, 掲載ページ 1-5, 英語, 査読付

A maximum flow evaluation method of microgrid comprised of ultra-small microgrid components," International Conference on Emerging Technologies for Communications
Takumi Wada; Yoshihito Tobe; Shinji Yokogawa; Haruhisa Ichikawa; Yuushuke Kawakita
出版日 2021年12月01日, International Conference on Emerging Technologies for Communications, 掲載ページ D3-2, 英語, 査読付

Accuracy verification of low-cost CO2 concentration measuring devices for general use as a countermeasure against COVID-19
Yo Ishigaki; Koji Enoki; Shinji Yokogawa
AbstractWithin the context of the COVID-19 pandemic, CO2 sensors that measure ventilation conditions and thereby reduce the risk of airborne infection, are gaining increasing attention. We investigated and verified the accuracy of 12 relatively low-cost sensor models that retail for less than $45 and are advertised as infection control measures on a major e-commerce site. Our results indicate that 25% of the tested sensors can be used to identify trends in CO2 concentration, if correctly calibrated. However, 67% of sensors did not respond to the presence of CO2, which suggests that a type of pseudo-technique is used to display the CO2 concentration. We recommend that these sensors are not suitable for infection prevention purposes. We also found that all 67% of the sensors that did not respond to CO2 responded strongly to alcohol. Owing to the widespread use of alcohol in preventing the spread of infectious diseases, sensors that react to alcohol can display inaccurate values, resulting in inappropriate ventilation behavior. Therefore, we strongly recommended that these sensors not be used. Based on our results, we offer practical recommendations to the average consumer, who does not have special measuring equipment, on how to identify inaccurate CO2 sensors., Cold Spring Harbor Laboratory, 出版日 2021年07月31日

Trends between indoor CO2 concentration and electricity usage through topological data analysis
S. Endo; S. Yokogawa
出版日 2021年03月09日, 2021 IEEE 3rd Global Conference on Life Sciences and Technologies,, 掲載ページ 530-531, 英語, 査読付

Toward efficient power delivery using USB Power Delivery hub
K. Takaie; K. Tamura; Y. Kawakita; S. Yokogawa; Y. Tobe; H. Ichikawa
出版日 2020年10月01日, ACM Conference on Embedded Networked Sensor Systems, 掲載ページ 1-15, 英語, 査読付

故障物理に基づくワイブル解析の拡張
横川慎二
出版日 2020年05月01日, 日本信頼性学会誌, 42巻, 掲載ページ 110-115, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）

Practical Issues in Aggregation and Distribution of Electrical Power Amond USB-PD-Connected Devices
K. Tamura; Y. Kawakita; Y. Tobe; S. Yokogawa; H. Ichikawa
出版日 2020年, 9th Workshop on the Reliability of Intelligent Environments, 掲載ページ 54-61, 英語, 査読付

An Approach to Renewable-Energy Dominant Grids via Distributed Electrical Energy Platform for IoT Systems
Haruhisa Ichikawa; Shinji Yokogawa; Yuusuke Kawakita; Kenji Sawada; Tomah Sogabe; Atsushi Minegishi; Hiromitsu Uehara
IEEE, 出版日 2019年10月, 2019 IEEE International Conference on Communications, Control, and Computing Technologies for Smart Grids (SmartGridComm)

超スマート社会の社会品質を支えるi-パワードエネルギー・システム
横川慎二; 市川晴久; 曽我部東馬; 澤田賢治; 早瀬修二; 大川富雄
出版日 2019年10月, 品質, 49巻, 3号, 掲載ページ 28-31, 日本語, 査読付, 記事・総説・解説・論説等（その他）, 0386-8230, 201902228119313600

Grouping optimization for Wind-Photovoltaic-Battery Hybrid System using graph enumeration
Kengo Takeda; Kenji Sawada; Shinji Yokogawa; Seiichi Shin
出版日 2019年01月23日, AROB 24th 2019, 掲載ページ 184-189, 英語, 査読付

A Simple Prediction Method for Chip-level Electromigration Lifetime using Generalized Gamma Distribution
S. Yokogawa; K. Kunii
出版日 2019年, 2019 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, 掲載ページ P.MB.9-1-P.MB.9-6, 英語, 査読付

Oxidation Structure Change of Copper Surface Depending on Accelerated Humidity
Ploybussara Gomasang; Satoru Ogiue; Kazuyoshi Ueno; Shinji Yokogawa
出版日 2018年, 2018 IEEE INTERNATIONAL INTERCONNECT TECHNOLOGY CONFERENCE (IITC), 掲載ページ 112-114, 英語, 2380-632X, 2380-6338, WOS:000468672900036

深層学習・深層強化学習を応用したエネルギーシステムの最適化
曽我部東馬; 横川慎二
日本信頼性学会, 出版日 2018年01月01日, 日本信頼性学会誌, 40巻, 掲載ページ 87-93, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）

Reliability Evaluation of Defect Accounted Time-Dependent Dielectric Breakdown with Competing-Mixture Distribution
S. Yokogawa; K. Tate
出版日 2018年, 2018 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, 掲載ページ P-GD.2-1-P-GD.2-4, 英語, 査読付

日常の問題場面を用いた教材開発への一考察 ―問題解決事例の分析による目的設定の方法―
山下雅代, 横川慎二, 鈴木和幸
出版日 2017年05月, 教材学研究, 28巻, 掲載ページ 35-46

再生可能エネルギー指向自律分散グリッドーバーチャルグリッドー
横川慎二; 市川晴久; 曽我部東馬; 澤田賢治; 川喜田佑介
日本信頼性学会, 出版日 2017年01月01日, 日本信頼性学会誌, 39巻, 1号, 掲載ページ 8-15, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）, 0919-2697, 40021068608, AN10540883

社会インフラの事故・不具合の未然防止における視点
横川慎二
日本品質管理学会, 出版日 2017年01月01日, 品質, 47巻, 掲載ページ 15-20, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）

Impacts of Censoring on Lifetime Analysis by Two-step Probability Plot in Defect Clustered TDDB
Shinji Yokogawa
出版日 2017年, 2017 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS), 掲載ページ DG3-1-DG3-6, 英語, 査読付, 1541-7026, WOS:000416068500109

東南アジアの在職職業訓練指導員の能力向上事業における統計的品質管理の学習
入倉則夫, 奥猛文, 横川慎二
出版日 2016年05月, 工学教育, 64巻, 3号, 掲載ページ 84-89

Advanced Metallization for ULSI Applications
Osamu Nakatsuka; Hoo Jeong Lee; Young Bae Park; Kazuyoshi Ueno; Shinji Yokogawa
出版日 2016年, Japanese Journal of Applied Physics, 55巻, 63号, 0021-4922, 1347-4065, 85065701167

マジックダイス実験を導入した品質管理教育の実践と分析
横川慎二,奥猛文,入倉則夫
出版日 2015年05月, 工学教育, 63巻, 3号, 掲載ページ 86-92

Middle of Line (MOL) Reliability □in between FEOL and BEOL-
Yokogawa, Shinji
出版日 2015年, International Reliability Physics Symposium, S1.3巻, 掲載ページ 1-76, 英語, 講演資料等（セミナー，チュートリアル，講習，講義他）, 国際誌

Virtual grid for renewable energy society.
Haruhisa Ichikawa; Ashir Ahmed; Hiroshi Hanafusa; Shinji Yokogawa; Yuusuke Kawakita; Kenji Sawada; Hirohide Mikami; Noriaki Yoshikawa
IEEE, 出版日 2015年, ISGT Asia, 掲載ページ 1-7, conf/isgta/IchikawaAHYKSMY15

コンタクトの信頼性 ―Siデバイスから先端パワーデバイスまで―
横川慎二
本稿では,Siデバイスで確立されてきたコンタクト技術の発展経緯と信頼性問題の概要,最先端デバイスプロセスにおける新たな信頼性課題,及び次世代デバイスにおけるコンタクトへの要求信頼性について述べる.アロイスパイク,Siノジュールなどの課題及びその解決方法と,先端Siデバイスで課題となってきているゲート-コンタクト間の経時絶縁破壊などの情報は,次世代デバイスにおいて起こりうる信頼性課題の未然防止に,重要な知見を与えるものである., 日本信頼性学会, 出版日 2015年01月01日, 日本信頼性学会誌, 37巻, 1号, 掲載ページ 26-33, 日本語, 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）, 0919-2697, 110009909695, AN10540883

日本信頼性学会
鈴木 和幸; 横川 慎二; 太田 周一
This paper introduces activities of Reliability Engineering Association of Japan (REAJ).REAJ is a volunteer group of professionals who engages in assuring reliability and safety of variousproducts, system, and human systems. REAJ organizes some symposiums and forums to encouragefor academic and industrial developments, and publishes scientific journal to introduce the latestresearch. Some study groups are contributing to mutual communications of members who havesimilar challenges., 特定非営利活動法人 横断型基幹科学技術研究団体連合, 出版日 2014年, 横幹, 8巻, 1号, 掲載ページ 36-37, 日本語, 1881-7610, 130005126018

Lifetime Prediction for Stress-induced Voiding in Nose-shape Lines by using a Stress-diffusion Analytical Model
Shinji Yokogawa
出版日 2014年, 2014 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, 掲載ページ 97-102, 英語, 査読付, 1541-7026, WOS:000343833200003

Impact of Low-k Moisture Absorption during Queue-time on Cu-alloy/Low-k Reliability and its Suppression
H. Tsuchiya; S. Yokogawa; H. Kunishima; T. Kuwajima; T. Usami; Y. Miura; K. Ohto; K. Fujii; M. Sakurai
出版日 2011年, 2011 IEEE INTERNATIONAL INTERCONNECT TECHNOLOGY CONFERENCE AND MATERIALS FOR ADVANCED METALLIZATION (IITC/MAM), 英語, 査読付, WOS:000299283100034

Statistics of Breakdown Field and Time-Dependent Dielectric Breakdown in Contact-to-Poly Modules
Shinji Yokogawa; Satoshi Uno; Ichiro Kato; Hideaki Tsuchiya; Tatsuo Shimizu; Mitsuhiro Sakamoto
出版日 2011年, 2011 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM (IRPS), 掲載ページ 350-357, 英語, 査読付, WOS:000295322100026

Direct Observation of RTN-induced SRAM Failure by Accelerated Testing and Its Application to Product Reliability Assessment
K. Takeuchi; T. Nagumo; K. Takeda; S. Asayama; S. Yokogawa; K. Imai; Y. Hayashi
出版日 2010年, 2010 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS, 掲載ページ 189-+, 英語, 査読付, WOS:000287495500071

EFFECTIVE THERMAL CHARACTERISTICS TO SUPPRESS JOULE HEATING IMPACTS ON ELECTROMIGRATION IN CU/LOW-K INTERCONNECTS
S. Yokogawa; H. Tsuchiya; Y. Kakuhara
出版日 2010年, 2010 INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, 掲載ページ 717-723, 英語, 査読付, WOS:000287515600117

Novel Scalable TDDB Model for Large-Area MIM Decoupling Capacitors in High Performance LSIs
N. Inoue; I. Kume; T. Iwaki; A. Shida; S. Yokogawa; M. Furumiya; Y. Hayashi
出版日 2009年, PROCEEDINGS OF THE 2009 IEEE INTERNATIONAL INTERCONNECT TECHNOLOGY CONFERENCE, 掲載ページ 191-+, 英語, 査読付, WOS:000272206600062

New Analysis Methods for Comprehensive Understanding of Random Telegraph Noise
T. Nagumo; K. Takeuchi; S. Yokogawa; K. Imai; Y. Hayashi
出版日 2009年, 2009 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING, 掲載ページ 709-+, 英語, 査読付, WOS:000279343900183

Optimization of Metallization Processes for 32-nm-node Highly Reliable Ultralow-k (k=2.4)/Cu Multilevel Interconnects Incorporating a Bilayer Low-k Barrier Cap (k=3.9)
M. Iguchi; S. Yokogawa; H. Aizawa; Y. Kakuhara; H. Tsuchiya; N. Okada; K. Imai; M. Tohara; K. Fujii; T. Watanabe
出版日 2009年, 2009 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING, 掲載ページ 813-+, 英語, 査読付, WOS:000279343900209

Single-Charge-Based Modeling of Transistor Characteristics Fluctuations Based on Statistical Measurement of RTN Amplitude
K. Takeuchi; T. Nagumo; S. Yokogawa; K. Imai; Y. Hayashi
出版日 2009年, 2009 SYMPOSIUM ON VLSI TECHNOLOGY, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS, 掲載ページ 54-+, 英語, 査読付, WOS:000275651200020

V-TH FLUCTUATIONS DUE TO RANDOM TELEGRAPH SIGNAL ON WORK FUNCTION CONTROL IN HF-DOPED SILICATE GATE STACK
T. Shimizu; I. Kato; S. Yokogawa; T. Kitagaki; J. Taniguchi; T. Suzuki; T. Tsuboi
出版日 2009年, 2009 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2, 掲載ページ 389-+, 英語, 査読付, WOS:000272068100065

Joule Heating Effects on Electromigration in Cu/Low-kappa Interconnects
S. Yokogawa; Y. Kakuhara; H. Tsuchiya
出版日 2009年, 2009 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2, 掲載ページ 837-843, 英語, 査読付, WOS:000272068100142

Prediction of early failure due to non-visual defect on time-dependent dielectric breakdown of low-k dielectrics: Experimental verification of a yield-reliability model
S. Yokogawa; D. Oshida; H. Tsuchiya; T. Taiji; T. Morita; Y. Tsuchiya; T. Takewaki
出版日 2008年, 2008 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS - 46TH ANNUAL, 掲載ページ 144-+, 英語, 査読付, 1541-7026, WOS:000257615900022

Impurity doping effects on electromigration performance of scaled-down Cu interconnects
Shinji Yokogawa; Hideaki Tsuchiya
出版日 2007年, STRESS-INDUCED PHENOMENA IN METALLIZATION, 945巻, 掲載ページ 82-97, 英語, 0094-243X, WOS:000252104700008

Analytical study of impurity doping effects on electromigration of Cu interconnects by employing comprehensive scattering model
S. Yokogawa; Y. Kakubara; H. Tsuchiya; K. Kikuta
出版日 2007年, 2007 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS - 45TH ANNUAL, 掲載ページ 117-+, 英語, 査読付, 1541-7026, WOS:000246989600020

A novel resistivity measurement technique for scaled-down Cu interconnects implemented to reliabitity-focused automobile applications
S. Yokogawa; K. Kikuta; H. Tsuchiya; T. Takewaki; M. Suzuki; H. Toyoshima; Y. Kakuhara; N. Kawahara; T. Usami; K. Ohto; K. Fujii; Y. Tsuchiya; K. Arita; K. Motoyama; M. Tohara; T. Taiji; T. Kurokawa; M. Sekine
出版日 2006年, 2006 INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING, VOLS 1 AND 2, 掲載ページ 772-+, 英語, 査読付, WOS:000247357700193

Effects of Al doping on electromigration performance of narrow single damascene Cu interconnects
S. Yokogawa; H. Tsuchiya
出版日 2006年, 2006 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS - 44TH ANNUAL, 掲載ページ 667-+, 英語, 査読付, 1541-7026, WOS:000240855800130

Stress relaxation in dual-damascene Cu interconnects to suppress stress-induced voiding
M. Kawano; T. Fukase; Y. Yamamoto; T. Ito; S. Yokogawa; H. Tsuda; Y. Kunimune; T. Saitoh; K. Ueno; M. Sekine
出版日 2003年, Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference, IITC 2003, 掲載ページ 210-212, 28744446852

A Robust Embedded Ladder-oxide/Cu Multilevel Interconnect Technology for 0.13μm CMOS Generation
N. Oda; S. Ito; T. Takewaki; H. Kunishima; N. Hironaga; I. Honma; N. Namba; S. Yokogawa; T. Goto; T. Usami; K. Ohto; A. Kubo; H. Aoki; M. Suzuki; Y. Yamamoto; S. Watanabe; T. Takeda; K. Yamada; M. Kosaka; T. Horiuchi
出版日 2002年, 2002 Symp. on VLSI Tech. Dieg. of Tech. Papers, 掲載ページ 34-35, 英語, 査読付, WOS:000176856300012

Full-0.56μm Pitch Copper Interconnects for a High Performance 0.15-μm CMOS Logic Device
M. Iguchi; T. Takewaki; Y. Matsubara; Y. Kunimune; N. Ito; Y. Tsuchiya; T. Matsui; K. Fujii; K. Motoyama; K. Sugai; A. Kubo; M. Suzuki; H. Tachibana; A. Nishizawa; K. Nakabeppu; S. Yamasaki; S. Yokogawa; Y. Yamamoto; T. Kunugi; S. Nakata; M. Kagamihara; A. Shida; S. Nakamoto; H. Gomi
出版日 1999年, International Electron Device Meeting, 掲載ページ 615-618, 英語, 査読付, 80011719431

車載用リチウムイオン電池のリユース技術と実際例
横川慎二; 中里諒
分担執筆, 第１編第１章 電気化学インピーダンス法と階層ベイズを用いたリチウムイオン二次電池の容量劣化量診断技術, NTS, 出版日 2023年08月, ISBN 9784860438500

加速試験の実施とモデルを活用した製品寿命予測
横川慎二
日本語, 分担執筆, 第９章第２節 スモールデータに基づく機器の寿命予測, 555p, 技術情報協会, 出版日 2023年06月, ISBN 9784861049552

信頼性試験技術
学術書, 日本語, 共著, 日科技連出版社, 出版日 2019年12月31日

新版信頼性ハンドブック
日本信頼性学会編
事典・辞書, 日本語, 共編者(共編著者), 日科技連出版, 出版日 2014年

LSIの信頼性
二川 清; 塩野 登; 横川 慎二; 福田 保裕; 三井 泰裕
学術書, 日本語, 分担執筆, 日科技連出版, 出版日 2010年

信頼性データ解析
鈴木和幸; 益田昭彦; 石田勉; 横川慎二
学術書, 日本語, 分担執筆, 日科技連出版, 出版日 2009年

LSIテスティングハンドブック
LSIテスティング学会
事典・辞書, 日本語, 分担執筆, オーム社, 出版日 2008年

信頼性七つ道具 R7
学術書, 日本語, 分担執筆, 日科技連出版, 出版日 2008年

金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策
学術書, 日本語, 分担執筆, サイエンス＆テクノロジー, 出版日 2006年

Lives Matter in Africa: An Interdisciplinary Reconsideration of Sustainability with a Concrete Case of Medina Sabakh, Senegal
Chikako Nakayama; Fafa Sene; Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Africa-Asia 3 A New-axis of Knowledge
発表日 2025年06月13日
開催期間 2025年06月11日- 2025年06月14日

円筒形太陽電池を用いた都市のレジリエンス強化
横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第33回春季信頼性シンポジウム
発表日 2025年05月20日
開催期間 2025年05月20日- 2025年05月20日

情報とエネルギーの融合による動的再構成可能なエネルギーグリッド構想
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, (一社)照明学会 光源・照明システム分科会 公開研究会, 招待
発表日 2025年03月04日

Evaluating wall installation methods for cylindrical solar cells in urban areas by luminous flux simulation
Fumiki Tamura; Shinji Yokogawa; Shuzi Hayase; Masaki Nakamura; Tomoyuki Hirami; Daisuke Hirotani; Yuya Sono; Toshihiro Takenoya; Daishiro Nomura; Takatoshi Nomura; Masahiro Hayashi; Kento Honma
口頭発表（一般）, 英語, 2024 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies - Asia (ISGT Asia), 査読付
発表日 2024年11月12日
開催期間 2024年11月10日- 2024年11月13日

Beyond 2nm の配線に求められる信頼性
横川慎二
日本語, RCJ信頼性シンポジウム, 招待
発表日 2024年11月08日

Device Identification Based On Power Waveform Using USB-PD Negotiation
Takumi Wada; Yuusuke Kawakita; Haruhisa Ichikawa; Shinji Yokogawa; Yoshito Tobe
口頭発表（一般）, 英語, 2024 International Conference on Intelligent Environments (IE), 査読付
開催期間 2024年06月17日- 2024年06月20日

Affinity-Based Power Flow Optimization in Reconfigurable Picogrid
Ryota Kokubu; Kaito Oeda; Yuusuke Kawakita; Shinji Yokogawa; Yoshito Tobe; Haruhisa Ichikawa
口頭発表（一般）, 英語, 2024 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII), 査読付
開催期間 2024年01月08日- 2024年01月11日

感染症予防難易度の高い社会福祉施設の空気質管理
横川慎二; 石垣陽; 喜多村紘子; 齋藤彰
第14回横幹連合コンファレンス, 招待
発表日 2023年12月16日
開催期間 2023年12月16日- 2023年12月17日

Effects of defect clustering on the shape of TDDB lifetime distribution and screening effectiveness
Koichi Endo; Shinji Yokogawa
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2023; 32nd Asian Session, 査読付
発表日 2023年10月12日
開催期間 2023年10月12日- 2023年10月13日

CO2センサを用いたフィールドワークと時系列データ解析に基づくエアロゾル感染リスク診断
川内雄登; 横川慎二; 石垣陽
口頭発表（一般）, 日本語, 日本信頼性学会第31回春季信頼性シンポジウム
発表日 2023年06月01日
開催期間 2023年06月01日- 2023年06月01日

MOL and BEOL Reliability
Shinji Yokogawa
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 英語, IEEE International Reliability Physics Symposium, 招待
発表日 2023年03月26日

保育園・幼稚園・高齢者施設の感染症抑制に向けた課題と現状分析
横川慎二; 石垣陽; 喜多村紘子; 齋藤彰
第13回横幹連合コンファレンス
発表日 2022年12月18日

CO2センサーデータの時系列クラスタリングによるマイクロ飛沫感染リスクの診断方法
川内雄登; 石垣陽; 横川慎二
第13回横幹連合コンファレンス
発表日 2022年12月18日

Simulation of area-level photovoltaic power generation on city facade for a power generation in smart grids
Li Guanglei; Shinji Yokogawa
英語, Grand Renewable Energy 2022 Conference, 査読付
発表日 2022年12月16日

USB PD based Microgrid for Accelerating the Power Grid Transition to a Low Carbon Future
Haruhisa Ichikawa; Shinji Yokogawa; Yuusuke Kawakita; Yoshito Tobe
2022 IEEE 8th World Forum on Internet of Things (WF-IoT), IEEE, http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10151825/10152024/10152187.pdf?arnumber=10152187
発表日 2022年10月26日
開催期間 2022年10月26日- 2022年10月26日

Statistical Modeling of Vth Distribution in Ovonic Threshold Switches
Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Advanced Metallization Conference 2022, Asian session, 国際会議
発表日 2022年10月13日

情報通信技術が切り拓く我が国のカーボンニュートラル
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, 会津大学学際研究フォーラム２０２２, 招待, 国内会議
発表日 2022年08月22日

Distributed Power-Delivery Decision for a USB-PD-based Network,
Y. Kawakita; K. Tamura; Y. Tobe; S. Yokogawa; H. Ichikawa
英語, 18th International Conference on Intelligent Enbironments
発表日 2022年06月15日
開催期間 2022年06月15日- 2022年06月15日

Controlling Power Supply Paths in VG Hub Networks Using a Hybrid Type Control Algorithm
Kaito Oeda; Yuusuke Kawakita; Akihito Taya; Yoshito Tobe; Shinji Yokogawa; Haruhisa Ichikawa
英語, Ambient Intelligence and Smart Environments, IOS Press, https://ebooks.iospress.nl/pdf/doi/10.3233/AISE220043, Although we have been developing a Virtual Grid (VG) system, where USB-PD-connected devices can alternatively provide and receive electrical power, we have not investigated the desirable power paths in a multiple-VG-Hub network. Our previous study shows that a power loss occurred inside the VG Hub. To minimize the total power loss, the number of used links needs to be minimized; the total power flow in the VG Hub network is minimized. In this paper, we have designed and implemented a cloud-based control system to execute the optimization with preceding local optimization. The experiment result has shown that the proposed hybrid type control algorithm can find the solution in 40% of the computational time on average compared with the algorithm that performs global optimization every time in the network where the solution can be found locally.
発表日 2022年06月14日
開催期間 2022年06月14日- 2022年06月14日

Time Series Clustering of CO2 Concentration Sensor Data for Risk Classification
Y. Kawauchi; Y. Ishigaki; S. Yokogawa
英語, Indoor air 2022
発表日 2022年06月01日
開催期間 2022年06月01日- 2022年06月01日

熱流体シミュレーションと応答曲面法を用いたX線検診車の換気とリスクの分析
平出大誠; 川内雄登; 石垣陽; 横川慎二; 齋藤彰; 喜多村紘子
口頭発表（一般）, 日本語, 第30回日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム, 国内会議
発表日 2022年05月31日

建物沿面を考慮した都市エリアレベルの太陽光発電量推定モデル
中里 諒; 横川慎二; 市川晴久; 後川知仁; 武田 隆
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会， 電子通信エネルギー技術研究会, 国内会議
発表日 2022年01月25日

Compact model for estimating area-level photovoltaic power generation on facade surface using 3D city model and solar radiation simulation
R. Nakazato; S. Yokogawa; H. Ichikawa; T. Ushirokawa; T. Takeda
英語, 2021 IEEE PES Innovative Smart Grid Technologies Conference – Asia
発表日 2021年12月05日
開催期間 2021年12月05日- 2021年12月05日

A maximum flow evaluation method of microgrid comprised of ultra-small microgrid components," International Conference on Emerging Technologies for Communications
Takumi Wada; Yoshihito Tobe; Shinji Yokogawa; Haruhisa Ichikawa; Yuushuke Kawakita
英語, International Conference on Emerging Technologies for Communications
発表日 2021年12月01日
開催期間 2021年12月01日- 2021年12月01日

故障物理に基づくデバイスの信頼性モデリング
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, OR学会・4部会・グループ合同研究会 ～確率モデルの新展開～, 国内会議
発表日 2021年10月23日

先端デバイスの故障メカニズムに基づく チップレベル信頼性設計
横川慎二
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 日本語, 第31回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム, 招待, 国内会議
発表日 2021年10月22日

Society 5.0の基盤としてのデータ収集・分析・利活用
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, 第28回IoT特別研究会（RC-88）, 招待, 国内会議
発表日 2021年08月31日

利用調査データに基づくユーザーペルソナの抽出とバッテリー劣化量との相関分析
浅野実; 横川慎二; 石垣陽; 冨永潤一; 粟津浜一
口頭発表（一般）, 日本語, モバイル '21, 国内会議
発表日 2021年07月20日

パブリックスペースにおける CO 2 濃度 センシングを用いたリスク解析
川内雄登; 石垣陽; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第50回信頼性・保全性・安全性シンポジウム, 国内会議
発表日 2021年06月29日

利用調査データに基づく ユーザーペルソナの抽出とバッテリー劣化量との相関分析
浅野実; 石垣陽; 横川慎二; 冨永潤一; 粟津浜一
口頭発表（一般）, 日本語, 第50回信頼性・保全性・安全性シンポジウム, 国内会議
発表日 2021年06月29日

CO2センサーネットワークによるホールの換気量の評価とリアルタイム可視化
川内登; 浅野実; 中里諒; 黒良内生; 中嶋洋貴; 平出大誠; 遠藤幸一; 石垣陽; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第29回環境化学討論会, 国内会議
発表日 2021年06月01日

Trends between indoor CO2 concentration and electricity usage through topological data analysis
S. Endo; S. Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, 2021 IEEE 3rd Global Conference on Life Sciences and Technologies, 国際会議
発表日 2021年03月09日

ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化傾向の診断
浅野実; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会，信頼性研究会, 国内会議
発表日 2021年02月12日

航空LiDARデータとGISソフトウェアを用いた太陽光沿面発電における検討
中里 諒; 野秋拓真; 横川慎二; 市川晴久; 後川知仁; 武田 隆
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会， 電子通信エネルギー技術研究会, 国内会議
発表日 2021年01月25日

VG-Hub制御・管理のクラウド化に関する検討
大條 海渡; 川喜田 佑介; 田谷 昭仁; 戸辺 義人; 横川 慎二; 市川 晴久
口頭発表（一般）, 日本語, 第29回マルチメディア通信と分散処理ワークショップ, 国内会議
発表日 2021年

Practical Issues in Aggregation and Distribution of Electrical Power Amond USB-PD-Connected Devices
K. Tamura; Y. Kawakita; Y. Tobe; S. Yokogawa; H. Ichikawa
口頭発表（一般）, 英語, 9th Workshop on the Reliability of Intelligent Environments, 国際会議
発表日 2021年

CO2センサーを活用した循環器検診車内の換気可視化の検討
斎藤彰; 石垣陽; 横川慎二; 川内雄登; 田中晴美; 浅野美穂; 小川美紀; 鎌田麻衣; 石川正吾; 齋藤泰紀
口頭発表（一般）, 日本語, 第62回日本人間ドック学会学術大会, 国内会議
発表日 2021年

分散電力の統合とグリッドレジリエンス確保のためのデバイス識別と蓄電池診断技術
横川慎二; 浅野実; 中里諒
口頭発表（一般）, 日本語, 第63回自動制御連合講演会, 国内会議
発表日 2020年11月13日

USB-PDによるポリシーアウェアDCパワーネットワーキング
川喜田佑介; 高家和輝; 田村光汰; 戸辺義人; 市川晴久; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第63回自動制御連合講演会, 国内会議
発表日 2020年11月13日

超小型電力システムを単位に再構成可能なマイクログリッド
市川晴久; 横川慎二; 戸辺義人; 川喜田佑介
口頭発表（一般）, 日本語, 第63回自動制御連合講演会
発表日 2020年11月13日

Ambient Intelligence（環境知能）によるフリーアドレススペースのリスク評価
横川慎二; 石垣陽; 遠藤駿; 高原廉
口頭発表（一般）, 日本語, 第11回横幹連合コンファレンス, 国内会議
発表日 2020年10月08日

Toward efficient power delivery using USB Power Delivery hub
K. Takaie; K. Tamura; Y. Kawakita; S. Yokogawa; Y. Tobe; H. Ichikawa
英語, ACM Conference on Embedded Networked Sensor Systems
発表日 2020年10月01日
開催期間 2020年10月01日- 2020年10月01日

電気化学インピーダンス法と階層ベイズによるリチウムイオン二次電池の容量劣化量診断
中里諒; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会、信頼性研究会8月度研究会, 国内会議
発表日 2020年08月28日

USB-PDを活用した電力の合成分配制御に関する検討
田村光汰; 川喜田佑介; 戸辺義人; 横川慎二; 市川晴久
口頭発表（一般）, 日本語, 第82回情報処理学会全国大会, 国内会議
発表日 2020年02月21日

極微細配線の課題解決に向けた金属間化合物の可能性
小池淳一; チェン リンハン; 横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, 電子情報通信学会，SDM研究会, 招待, 国内会議
発表日 2020年02月07日

Toward efficient power delivery using USB Power Delivery hub
K. Takaie; K. Tamura; Y. Kawakita; S. Yokogawa; Y. Tobe; H. Ichikawa
口頭発表（一般）, 英語, ACM Conference on Embedded Networked Sensor Systems, 国際会議
発表日 2020年02月01日

ビッグ/スモールデータ時代の信頼性解析
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, JEITA 半導体信頼性認定ガイドラインセミナー, 招待, 国内会議
発表日 2020年01月31日

人対機械システムにおける信頼成長の分析
横川慎二; 遠藤駿
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会，信頼性研究会, 国内会議
発表日 2019年12月13日

i-パワードエネルギーによるデータ駆動型社会基盤と不具合未然防止
横川慎二; 市川晴久; 澤田賢治; 曽我部東馬; 川喜田佑介
口頭発表（一般）, 日本語, 第10回横幹連合コンファレンス, 国内会議
発表日 2019年11月30日

ワイブルベイズ統計モデリングにおける故障物理情報の応用
横川慎二
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 日本語, 第29回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム, 招待, 国内会議
発表日 2019年11月28日

An Approach to Renewable-Energy Dominant Grids via Distributed Electrical Energy Platform for IoT Systems
H. Ichikawa; S. Yokogawa; Y. Kawakita; K. Sawada; T. Sogabe; A. Minegishi; H. Uehara
口頭発表（一般）, 英語, IEEE International Conference on Communications, Control, and Computing Technologies for Smart Grids, 国際会議
発表日 2019年10月21日

Chip-level Electromigration Evaluation using GENG estimations
Shinji Yokogawa; Kyosuke kunii; Ryou Nakazato
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2019, Asian session, 国際会議
発表日 2019年10月10日

Humidity Reliability of a Commercial Flash Memory for Long Term Storage
T. Murota; T. Mimura; P. Gomasang; S. Yokogawa; K. Ueno
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2019, Asian session, 国際会議
発表日 2019年10月10日

エゾシカ肉の電気的特性評価とそのおいしさの解析
武山真弓; 横川慎二; 佐藤勝; 安井崇
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会 電子部品・材料研究会, 国内会議
発表日 2019年08月

信頼性加速試験における小サンプルサイズでの解析精度に関するシミュレーション研究
遠藤 幸一; 瀬戸屋 孝; 國井 喬介; 横川 慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第49回信頼性・保全性シンポジウム, 国内会議
発表日 2019年07月18日

局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB寿命分布のパラメータ推定精度の研究
國井喬介; 遠藤駿; 中里諒; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第49回信頼性・保全性シンポジウム, 国内会議
発表日 2019年07月18日

クラスター欠陥とストレス分布に基づく先端デバイスの信頼度モデリング
横川慎二; 國井喬介
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会，信頼性研究会, 国内会議
発表日 2019年06月14日

自動／有人レジに対する不満の差異に着目した対人自動システムへの信頼構造の分析
森田裕; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第27回日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム, 国内会議
発表日 2019年05月31日

「数の難題」，再来 ーLSI信頼性の果たすものとこれからー
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー, 招待, JEITA, 国内会議
発表日 2019年05月24日

「数の難題」，再来 ーLSI信頼性の果たすものとこれからー
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー, 招待, 国内会議
発表日 2019年05月24日

Reliability statistics for next-generation interconnects -The combination of physical modeling and statistical techniques-
S. Yokogawa
口頭発表（招待・特別）, 英語, 2019 MRS Spring Meeting, 招待, 国際会議
発表日 2019年04月23日

ベイズ推測によるワイブル初期故障分布の推定・評価
横川慎二
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 日本語, 第28回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム, 招待, 国内会議
発表日 2018年11月27日

グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化
武田健吾; 澤田 賢治; 横川 慎二; 新誠一
口頭発表（一般）, 日本語, 計測自動制御学会システム・情報部門学術講演会, 国内会議
発表日 2018年11月25日

多層配線の故障物理メカニズムと信頼度予測
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー, 招待, 国内会議
発表日 2018年11月16日

局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB の寿命分布のパラメータ推定精度の研究
國井喬介; 遠藤駿; 横川慎二
ポスター発表, 日本語, ADMETA Satellite Workshop, 国内会議
発表日 2018年11月02日

エレクトロマイグーション のチップレベル 寿命分布の考察
横川慎二; 國井喬介
ポスター発表, 日本語, ADMETA Satellite Workshop, 国内会議
発表日 2018年11月02日

Parameter estimation accuracy of TDDB lifetime distribution with clustering defects using the Bayesian approach
Kyosuke Kunii; Shun Endo; Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Advanced Metallization Conference 2018, Asian session, Tokyo, 国際会議
発表日 2018年10月12日

グローバル展開を前提とした超スマート社会の確立を目指すエネルギープラットフォーム
市川 晴久; 横川 慎二; 川喜田 佑介
口頭発表（一般）, 日本語, 第９回横幹連合コンファレンス, 国内会議
発表日 2018年10月06日

グルーピング列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化
武田健吾; 澤田 賢治; 横川 慎二; 新誠一
口頭発表（一般）, 日本語, 第９回横幹連合コンファレンス, 国内会議
発表日 2018年10月06日

創発的不具合における機能共鳴の分析と分類
横川 慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第９回横幹連合コンファレンス, 国内会議
発表日 2018年10月06日

Temperature and Humidity Acceleration to Establish Lifetime Prediction Model for Cu-based Metallization
P. Gomasang; S. Ogiue; S. Yokogawa; K. Ueno
口頭発表（一般）, 英語, International Conference on Solid State Devices and Materials, 応用物理学会, 国際会議
発表日 2018年09月10日

アンケート分析によるエゾシカ肉の旨味評価と電気的測定評価との関連
武山真弓; 横川慎二; 佐藤勝; 安井崇
口頭発表（一般）, 日本語, 電子情報通信学会電子部品・材料研究会8月度研究会, 国内会議
発表日 2018年08月10日

畳み込みニューラルネットワークを用いたシステムの特性劣化の特徴量抽出と運用条件検討への応用
遠藤駿; 横澤成望; 川上紗野花; 國井喬介; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 信頼性・保全性シンポジウム, 日本科学技術連盟, 国内会議
発表日 2018年07月19日

Oxidation Structure Change of Copper Surface Depending on Accelerated Humidity
P. Gomasang; S. Ogiue; K. Ueno; S. Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, IEEE International Interconnect Technology Conference, IEEE, 国際会議
発表日 2018年06月14日

特徴グラフを用いた汎用型CNN深層学習手法の開発
高橋 慧; 沼尻 匠; 曽我部 完; 坂本 克好; 山口 浩一; 横川 慎二; 曽我部 東馬
口頭発表（一般）, 日本語, 人工知能学会全国大会, 国内会議
発表日 2018年06月05日

量子事故符号化器の開発
黄川田優太; 坂本克好; 山口浩一; 横川慎二; 曽我部東馬
口頭発表（一般）, 日本語, 人工知能学会全国大会, 国内会議
発表日 2018年06月05日

Hybrid Policy Gradient for Deep Reinforcement Learning
P. S. THAKUR; M. SOGABE; K. SAKAMOTO; K. YAMAGUCHI; D. B. MALLA; S. YOKOGAWA; T. SOGABE
口頭発表（一般）, 英語, 人工知能学会全国大会, 国内会議
発表日 2018年06月05日

Physical and Statistical Analysis and Methodologies for Realizing Automotive-Level Extremely Low Defect Densities (FEOL/MOL/BEOL)
Shinji Yokogawa
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 英語, International Conference on IC Design and Technology, 招待, IEEE, Otranto, Italy, 国際会議
発表日 2018年06月04日

風力・太陽光・蓄電池複合システムにおけるグルーピング最適化の検証
武田健吾; 澤田賢治; 横川慎二; 新誠一
口頭発表（一般）, 日本語, 第30回自律分散システム・シンポジウム, 国内会議
発表日 2018年01月28日

テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車のリコール情報の分析
横川慎二; 國井喬介
口頭発表（一般）, 日本語, 第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム, 国内会議
発表日 2017年11月27日

畳み込みニューラルネットワークを用いた設備特性劣化のオンラインモニタリングデータ分析
横澤成望; 横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム, 国内会議
発表日 2017年11月27日

システムの不具合における創発性の影響について
横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 第60回自動制御連合講演会, 国内会議
発表日 2017年11月10日

Statistical evaluation of lifetime distribution with defect clustering by using two-step probability plot and multi-link test scheme
Kazuki Tate; Shinji Yokogawa
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2017, Asian session, Tokyo, 国際会議
発表日 2017年10月19日

Application of fault tree analysis for interconnect reliability assessment
Shinji Yokogawa; Kyosuke Kunii
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2017, Asian session, Tokyo, 国際会議
発表日 2017年10月19日

リチウムイオン二次電池の劣化における二変量ストレスの交互作用に着目した統計モデリング
横川慎二; 國井喬介; 横澤成望
口頭発表（一般）, 日本語, 2017年電気化学秋季大会, 電気化学会, 長崎, 国内会議
発表日 2017年09月10日

半導体集積回路配線の信頼性課題と寿命予測
横川慎二
口頭発表（招待・特別）, 日本語, 応用物理学会春季学術講演会, 招待, 国内会議
発表日 2017年03月15日

A simple method of parameter estimating for time-dependent clustering model in MOL/BEOL TDDB lifetime
Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Advanced Metallization Conference 2016, Asian session, 国際会議
発表日 2016年10月20日

リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクルと待機時間の影響
横川慎二
口頭発表（一般）, 日本語, 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム, 国内会議
発表日 2016年05月23日

A simulation study of impacts of global and local space variations on lifetime distribution in MOL/BEOL TDDB
Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Advanced Metallization Conference 2015, Asian session, 国際会議
発表日 2015年09月17日

Middle of Line (MOL) Reliability - in between FEOL and BEOL -
Shinji Yokogawa
公開講演，セミナー，チュートリアル，講習，講義等, 英語, International Reliability Physics Symposium, 招待, 国際会議
発表日 2015年04月19日

An analysis of statistical characteristics of lifetime distribution based on the defect clustering for MOL/BEOL TDDB
Shinji Yokogawa
ポスター発表, 英語, Advanced Metallization Conference 2014: 24th Asian Session, 国際会議
発表日 2014年10月23日

Lifetime Prediction Model for Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects
Shinji Yokogawa
口頭発表（一般）, 英語, Advanced Metallization Conference 2013: 23rd Asian Session, 国際会議
発表日 2013年10月08日

品質管理第一
2023年10月 - 現在
電気通信大学

リスクマネジメント論
2023年04月 - 現在
電気通信大学大学院

コンピュータリテラシー
2021年04月 - 現在
電気通信大学

信頼性と設計
2020年10月 - 現在
早稲田大学大学院

基礎科学実験A
2018年10月 - 現在
電気通信大学

信頼性工学
2016年10月 - 現在
電気通信大学

機械電気工学特別講義 カーボンニュートラルに向けたエネルギーインフラパラダイムとシステムレジリエンス
2023年09月 - 2023年09月
北見工業大学

統計解析特論
2016年
職業能力開発総合大学校・高度養成課程

統計解析特論
2015年
職業能力開発総合大学校・高度養成課程

大学院総合コミュニケーション科学
The University of Electro-Communications

輪講B（学域・Ｋ課程）
電気通信大学

科学と人間（４）
津田塾大学

大学院総合コミュニケーション科学
電気通信大学

ソフトウェア品質保証（集中講義）
筑波大学

イノベイティブ総合コミュニケーションデザイン1
電気通信大学

信頼性工学特論
職業能力開発総合大学校・職業能力開発研究学域

イノベイティブ総合コミュニケーションデザイン２
電気通信大学

統計解析特論
職業能力開発総合大学校

オペレーションズリサーチ特論
職業能力開発総合大学校・短期養成課程（国費留学生）

システム工学特論
職業能力開発総合大学校・高度養成課程

信頼性工学特論
職業能力開発総合大学校・短期養成課程（国費留学生）

品質管理
職業能力開発総合大学校・総合課程

電気学会

電子情報通信学会

IEEE

応用物理学会

日本品質管理学会

日本信頼性学会

Lives Matter in Africa: Toward a Collaboration for 'Global South'
中山 智香子; 神代 ちひろ; 横川 慎二; 小田原 琳
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 東京外国語大学, 国際共同研究加速基金(海外連携研究), 24KK0001
研究期間 2024年09月09日 - 2028年03月31日

小規模創電・蓄電の統合運用を可能にするインターネット型電力プラットフォーム
横川 慎二
日本学術振興会, 科学研究費助成事業 基盤研究(B), 電気通信大学, 基盤研究(B), 23H01636
研究期間 2023年04月01日 - 2027年03月31日

ポスト５Ｇ情報通信システム基盤強化研究開発事業／先端半導体製造技術の開発／Beyond 2nm及び短TAT半導体製造に向けた技術開発／国際連携による次世代半導体製造技術開発 《Beyond 2nm世代向け半導体技術開発》
技術研究組合最先端半導体技術センター（NEDO再委託）, 研究代表者
研究期間 2024年01月 - 2027年01月

次世代3次元LSIのための低消費電力を可能とする高機能裏面配線構造の検討
佐藤 勝; 横川 慎二; 武山 眞弓
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 北見工業大学, 基盤研究(C), 23K03920
研究期間 2023年04月01日 - 2026年03月31日

都市型太陽電池による創電・蓄電の強化推進事業
東京都, 大学研究者による事業提案制度, 研究代表者
研究期間 2023年04月 - 2026年03月

信頼性・安全性トラブル未然防止へのモバイルIoTモニタリングシステムの開発と展開
鈴木和幸
研究期間 2020年04月01日 - 2025年03月31日

円筒形太陽電池を用いた可搬式創蓄電設備の実証
調布市, 子供・長寿・居場所区市町村包括補助事業, 研究代表者
研究期間 2022年11月 - 2025年03月

感染症予防難易度の高い社会福祉施設における環境特徴量抽出と空気質管理方法に関する研究
横川慎二; 石垣陽; 喜多村紘子
公益財団法人カシオ科学振興財団
研究期間 2022年11月 - 2023年10月

保育施設における感染症予防のための空気質管理方法と換気ガイドライン策定に関する研究
横川慎二; 石垣陽; 喜多村紘子; 斎藤彰
エスペック地球環境研究・技術基金
研究期間 2022年08月 - 2023年08月

小型CO2センサー群による密閉密集の可視化
研究期間 2021年05月01日

協調給電による再生可能エネルギー指向自律分散グリッドの開発と実証
横川慎二
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 電気通信大学, 挑戦的研究(開拓), 研究代表者, 複数の電力消費要求に対して、複数の蓄電池から協調して電力を供給する、低電圧DC協調給電を特徴とする、再生可能エネルギーを指向した電力グリッド技術“バーチャルグリッド”を開発し、その実験による評価検証と、蓄電池給電の有効性に関する実証実験を行った。本研究期間に、USB-PDをI/Fとする試作品を開発し、協調給電制御に関するポリシーの決定方法を開発した。また、自立分散グリッドのネットワーク構造を決定するグラフ信号処理、消費などの環境情報を推論するAI、複数電源の最適なグルーピング理論、レジリエンス評価手法などに関する理論を構築し、国際会議、査読付き論文などを通じて本分野の必要性、有効性を示した。, 20K20314
研究期間 2017年06月30日 - 2021年03月31日

リスクモードとオンラインモニタリング技術高度化に着目した未然防止体系の新展開
鈴木和幸
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 電気通信大学, 基盤研究(A), 予測に基づく未然防止と横断的学術としての信頼性工学の体系革新とその展開を目的に、次世代品質信頼性情報システムQRISを開発し、Top Event Mode(TEM)、リスクモード・故障モードなどの”Black Mode”に着目したStructured Risk Mode(SRiM)と “正常か否か”の”White Mode”に着目したStructured White Mode(SWiM)の両者の視点から検討を行い、未然防止の七視点を構築し、これに基づき基づき信頼性工学の新体系を確立するとともに、製品安全・労働安全・医療安全に於ける重大リスクの未然防止への展開を行った。, 15H01786
研究期間 2015年04月01日 - 2020年03月31日

Advanced Metallization Conference 2019 29th Asian Session研究会助成
公益財団法人村田学術振興財団, 研究会助成
研究期間 2019年10月09日

リチウムイオン二次電池の余寿命予測とリユースのための２変量寿命分布解析の応用
横川慎二
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 基盤研究(C), リチウムイオン二次電池の稼働に伴う容量の劣化について、充放電ストレスと待機時間ストレスに駆動される二つのメカニズムの寄与とその交互作用を前提とし、実際に電池を運用する条件に対して正確な劣化予測を可能とするモデルを構築した。 ストレス条件下におかれたリチウムイオン二次電池の内部では、容量劣化に寄与する複数の反応が進行することを実験により確認した。その挙動をべき乗モデルで表現した固定効果と、電池の個体間差をランダム効果として表現した線形混合効果モデルを適用することにより、高い精度の予測を行うことが可能となる。 このモデルの適用により、長期使用中の使用状況の変化にも対応可能な、精緻な予測が可能となる。, 26350472
研究期間 2014年04月 - 2017年03月

機械学習・深層学習を用いたリチウムイオン二次電池の市場信頼性予測の研究
横川慎二
公益財団法人カシオ科学振興財団, 研究協賛, 研究代表者
研究期間 2016年

次世代品質・信頼性情報システムの研究と開発
鈴木 和幸; 田中 健次; 伊藤 誠; 山本 渉; 金 路; 横山 真弘; 椿 広計; 長塚 豪己; 横川 慎二; 椿 広計
日本学術振興会, 科学研究費助成事業, 電気通信大学, 基盤研究(A), 本研究は品質管理学・信頼性工学と高度情報通信技術の知を融合した次世代品質信頼性情報システムQRIS(Quality and Reliability Information System)に基づく高品質・高信頼性モノづくりの標準プロセスを創生することにより、①顧客への個別対応リスクコミュニケーションの精度向上を通じた信頼と安全の獲得、②ハザード ー 故障モード ー トップ事象モード ー 影響への着目による品質・信頼性トラブルの未然防止体系の確立、③信頼性工学の情報化時代に即した刷新、を目的とする。, 22241038
研究期間 2010年04月01日 - 2015年03月31日

発電量推定装置
特許権, 特願2022-056979, 出願日: 2022年03月30日

給電制御システム
特許権, 市川晴久, 横川慎二, 川喜田祐介, 特願2017-214821, 出願日: 2017年11月07日, 特許第7038402号, 発行日: 2022年03月10日

発電量推定装置
特許権, 特願2021-037410, 出願日: 2021年03月09日

蓄電池管理システム、蓄電池情報サーバ、充放電制御装置及び蓄電池
特許権, 市川晴久, 川喜田祐介, 澤田賢治, 横川慎二, 特願2015-150389, 出願日: 2015年07月30日

2023年度宇宙転用可能性部品の宇宙適用ハンドブック改訂検討会委員
助言・指導, JAXA, その他
2023年09月27日 - 2024年02月29日

技術支援 一般社団法人電子情報技術産業協会 半導体信頼性技術委員会 半導体信頼性用語集策定TF
助言・指導, 一般社団法人電子情報技術産業協会, 一般社団法人電子情報技術産業協会, 市民団体
2019年06月

地域支援等への参画 神奈川県立多摩高等学校SSH運営指導委員会委員
運営参加・支援
2019年04月01日

技術支援 一般社団法人電子情報技術産業協会 半導体信頼性技術委員会 区間推定ＴＦ
助言・指導, 一般社団法人電子情報技術産業協会, 一般社団法人電子情報技術産業協会, 市民団体
2016年12月 - 2018年06月

"エコなｅスポーツイベント、「可搬式円筒形太陽光発電モジュール」を活用 調布市、ＮＴＴ東日本ら"
都政新報
公開日 2023年12月

重さ2kgの新たな太陽電池，都と共同で実証実験進む
本人以外, 月刊Smart House, 9月号32-33ページ, 新聞・雑誌
公開日 2023年09月

上釜美憂のコレが知りたい！
本人以外, テレビ愛知, ５時スタ, テレビ・ラジオ番組
公開日 2023年08月

キーデバイス
本人以外, 日刊工業新聞, 日刊工業新聞, 経営ひと言, 新聞・雑誌
公開日 2023年07月

東京都と電通大、都市型太陽電池で協定 発電量2倍に
本人以外, 日本経済新聞社, 日本経済新聞, 新聞・雑誌
公開日 2023年04月

壁面に円筒型太陽電池 電通大、都と実証
本人以外, 電気新聞, 新聞・雑誌
公開日 2023年04月

For Future先端技術 壊れても取り替え容易
本人以外, 日刊工業新聞社, 日刊工業新聞, 新聞・雑誌
公開日 2023年01月

イマナマ！ リチウムイオン電池を含んだ製品のトラブルや安全利用についての研究内容
中国放送, テレビ・ラジオ番組
公開日 2022年07月

ニュースウォッチ９ "スマホ熱中症"について
NHK, テレビ・ラジオ番組
公開日 2022年07月

進化する世界の中でも「在り」つづけるファニチャー
CARBON STOCK FURNITURE（東京ガスコミュニケーションズ株式会社）, その他
公開日 2022年07月

職場・新常態／電気通信大学 センサーでＣＯ２“見える化”
日刊工業新聞, 新聞・雑誌
公開日 2022年02月

ジモト応援！東京つながるNews
J:COMチャンネル, テレビ・ラジオ番組, 横川慎二教授、澤田賢治准教授（i-パワードエネルギー・システム研究センター）、安達宏一准教授（先端ワイヤレスコミュニケーション研究センター）、榎木光治准教授（機械知能システム学専攻）、石垣陽特任准教授（情報学専攻）の学内ワクチン接種会場でのAI／IoT環境センサの実証実験について、J:COMチャンネル（地デジ11Ch）「ジモト応援！東京つながるNews」で紹介
公開日 2021年08月

「ながら充電」に注意 携帯市場と電通大がスマホのバッテリー劣化を防ぐ研究
iTmedia mobile, その他
公開日 2021年04月

News23 石垣陽特任准教授（情報学専攻）がCO2濃度の可視化ついて解説し、本学の入学式準備での実験や、調布駅前商店街での実証例を紹介
TBS, テレビ・ラジオ番組
公開日 2021年04月

イット！「ながら充電」でバッテリーの劣化が加速 「充電しながらゲーム」で8.9度の温度上昇も
フジテレビ, テレビ・ラジオ番組
公開日 2021年04月

スッキリ スマホバッテリーの劣化原因などについて紹介
日本テレビ, テレビ・ラジオ番組
公開日 2021年04月

スマホバッテリーの劣化や発熱について解説
日刊ゲンダイ, 新聞・雑誌
公開日 2021年04月

""全学データをAI解析、認知症患者の問題行動予測 電通大が検証"" 全学の活動データをIoT（モノのインターネット）で集め、人口知能（AI）で絞り込んで解析する「IoT・AIキャンパス」プロジェクトについて
日刊工業新聞, 新聞・雑誌
公開日 2021年04月

""新型コロナ 調布方式 医師巡回接種始まる"" 調布市が新型コロナウイルスワクチンの集団接種会場に、本学が開発したCO2センサーを導入
東京新聞, 新聞・雑誌
公開日 2021年04月

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter
学会・研究会等, 企画立案・運営等, IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter, 実施期間 2023年12月08日 - 現在

IEEE International Reliabiliby Physics Symposium, Program Committee
大会・シンポジウム等, 企画立案・運営等, IEEE, 実施期間 2024年04月14日 - 2024年04月18日

IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference
大会・シンポジウム等, 企画立案・運営等, IEEE, 実施期間 2024年03月03日 - 2024年03月06日

日本信頼性学会第36回秋季シンポジウム
学会・研究会等, 企画立案・運営等, 日本信頼性学会, 実施期間 2023年11月02日 - 2023年11月02日

Advanced Metallization Conference Plus 2023
大会・シンポジウム等, 企画立案・運営等, 応用物理学会, 実施期間 2023年10月11日 - 2023年10月13日

日本信頼性学会第31回春季シンポジウム
学会・研究会等, 企画立案・運営等, 日本信頼性学会, 実施期間 2023年06月01日 - 2023年06月01日

IEEE International Reliabiliby Physics Symposium, Program Committee
大会・シンポジウム等, 査読, IEEE, 実施期間 2023年03月26日 - 2023年03月30日

第13回横幹連合コンファレンス
学会・研究会等, 企画立案・運営等, 実施期間 2022年12月17日

日本信頼性学会第35回秋季シンポジウム
大会・シンポジウム等, 企画立案・運営等, 日本信頼性学会, 実施期間 2022年11月21日

IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter Seminar
学会・研究会等, 企画立案・運営等, IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter, 実施期間 2022年10月26日

Advanced Metallization Conference Plus 2022
大会・シンポジウム等, その他, 実施期間 2022年10月12日 - 2022年10月14日

Reliability Engineering & System Safety
査読等, 査読, 実施期間 2022年03月